Métrologies de surfaces, rugosité, profils, formes 3D, déplacements,
photométrie, colorimétrie
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ULTRAObjective
Tête de mesure à champ proche AFM/SPM
- Compatibles avec la plupart des microscopes optiques
- Compact
- Gamme complète de 20 µm à 80 µm
- Compatibles avec la plupart des microscopes optiques
- Compact
- Gamme complète de 20 µm à 80 µm
EOTECH offre une large gamme de produits pour les mesures de rugosité, états de
surface, formes, géométries, dimensions, déplacement, vibrations, couleur, éclairage
et signalisation pour l’amélioration de procédés, le contrôle ou l’inspection.