APPLICATIONS >
Métrologie 3D - Microscopie > Recherche
Recherche
Recherche
La recherche a besoins des outils d’investigation les plus performants qu’il puissent exister. Elle a besoin aussi d’outils simple et utilisable par plusieurs utilisateurs afin de pouvoir être partagé par tous. L’innovation technologique reste notre enjeu à fournir à la recherche les meilleurs outils. Les partenariats de développement sont nécessaires à l’évolution de nos produits et l’ensemble des partenaires avec qui nous travaillons y contribuent.
- Visualisation 3D
- Topographie 3D
- Dimensions fractales, ondelettes
- Exportation des données
EOTECH offre une large gamme de produits pour les mesures de rugosité, états de
surface, formes, géométries, dimensions, déplacement, vibrations, couleur, éclairage
et signalisation pour l’amélioration de procédés, le contrôle ou l’inspection.