Métrologies de surfaces, rugosité, profils, formes 3D, déplacements,
photométrie, colorimétrie
PRODUITS >
Métrologie 3D - Microscopie > OPTOSURF
OPTOSURF
Microscope interféromètrique avec option champ proche
- Contrôle d’état de surface
- Profilomètrie de microstructures
- Gamme de mesure Z étendue de 0.1nm à 100 µm
- Contrôle d’état de surface
- Profilomètrie de microstructures
- Gamme de mesure Z étendue de 0.1nm à 100 µm
EOTECH offre une large gamme de produits pour les mesures de rugosité, états de
surface, formes, géométries, dimensions, déplacement, vibrations, couleur, éclairage
et signalisation pour l’amélioration de procédés, le contrôle ou l’inspection.