Métrologies de surfaces, rugosité, profils, formes 3D, déplacements,
photométrie, colorimétrie
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OPTOSURF
Profilomètre optique multi-échelles
- Pour des mesures du nanomètre au millimètre
- Interférométrie à décalage de phase
- Interférométrie à contraste de phase
- Micro-projection de franges
- Pour des mesures du nanomètre au millimètre
- Interférométrie à décalage de phase
- Interférométrie à contraste de phase
- Micro-projection de franges
EOTECH offre une large gamme de produits pour les mesures de rugosité, états de
surface, formes, géométries, dimensions, déplacement, vibrations, couleur, éclairage
et signalisation pour l’amélioration de procédés, le contrôle ou l’inspection.