Métrologies de surfaces, rugosité, profils, formes 3D, déplacements,
photométrie, colorimétrie
MesurExpo à Paris du 23 au 25 Octobre 2012
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SF2IC du 3 au 5 Octobre 2012 à Reims
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EMAA du 12 au 14 Octobre 2012 au Palais des congrès à Paris
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ISBS 2012 du 28 au 30 Novembre 2012 à Copenhague
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http://www.euromedicom.com/emaa-2012/fr/about.html
EOTECH offre une large gamme de produits pour les mesures de rugosité, états de
surface, formes, géométries, dimensions, déplacement, vibrations, couleur, éclairage
et signalisation pour l’amélioration de procédés, le contrôle ou l’inspection.