Métrologies de surfaces, rugosité, profils, formes 3D, déplacements,
photométrie, colorimétrie
In Cosmetics 2012 du 17 au 19 Avril 2012 à Barcelone
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EADV 2012 du 27 au 30 Septembre 2012 à Prague
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MesurExpo à Paris du 23 au 25 Octobre 2012
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SF2IC du 3 au 5 Octobre 2012 à Reims
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EMAA du 12 au 14 Octobre 2012 au Palais des congrès à Paris
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