Métrologies de surfaces, rugosité, profils, formes 3D, déplacements,
photométrie, colorimétrie
Eotech sera présent au salon MesurExpoVision du 1er au 3 Juin 2010 au parc des exposition de la porte de Versailles à Paris
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Nos nouveautés et innovations pour les mesures dermato-cosmétiques présentées à In Cosmetics 2010
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EOTECH offre une large gamme de produits pour les mesures de rugosité, états de
surface, formes, géométries, dimensions, déplacement, vibrations, couleur, éclairage
et signalisation pour l’amélioration de procédés, le contrôle ou l’inspection.