Métrologies de surfaces, rugosité, profils, formes 3D, déplacements,
photométrie, colorimétrie
In Cosmetics 2012 du 17 au 19 Avril 2012 à Barcelone
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EADV 2012 du 27 au 30 Septembre 2012 à Prague
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MesurExpo à Paris du 23 au 25 Octobre 2012
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EOTECH offre une large gamme de produits pour les mesures de rugosité, états de
surface, formes, géométries, dimensions, déplacement, vibrations, couleur, éclairage
et signalisation pour l’amélioration de procédés, le contrôle ou l’inspection.